CUSTOM REFERENCE WAFER SERVICE
根据客户设备、检测指标和工艺场景,提供从需求确认、方案设计到样片制备与交付的定制服务。
Custom Service
定制缺陷类型、尺寸梯度、结构组合、测试区域和晶粒布局。
定制线宽、间距、周期、深度、台阶和特殊三维结构。
定制颗粒材质、尺寸、数量、位置和图案化分布。
定制晶圆尺寸、基底材料、膜层材料、膜厚与多层结构。
Required Inputs
请提供设备型号、目标指标、材料结构和使用场景,以便进一步沟通。