深化产学研协同，推动标准片技术创新与产业人才培养。
2026年10月27日，上海视光微电子工程有限公司与中国计量大学举行校企合作项目签约暨校企联合实训基地授牌仪式。中国计量大学副校长王新庆、计量测试与仪器学院院长罗哉等校方领导及相关教师代表出席活动，上海视光微电子工程有限公司CEO韩广强、CTO李文杰等企业代表参加活动。
此次活动围绕半导体量检测产业发展、标准片技术创新、校企联合科研及人才培养等内容展开交流，为双方进一步探索产学研协同合作、促进科研与产业需求相结合搭建了新的平台。
一、签约授牌，开启校企合作新篇章
活动伊始，中国计量大学相关领导致辞，介绍学校的专业基础与产教融合规划，并对双方未来的合作方向表达期待。
随后，上海视光微电子工程有限公司CEO韩广强代表企业出席签约仪式，与校方代表共同完成项目合同签署，并参与校企联合实训基地授牌仪式。
此次合作是视光微立足半导体量检测领域、深化校企交流的一项积极实践。通过企业与高校之间的紧密协作，双方将进一步探索产业需求、科研资源与人才培养之间的衔接方式，为后续开展技术研究、实践教学和项目合作创造条件。
二、聚焦产业前沿，分享半导体量检测技术与发展趋势
签约授牌仪式后，视光微CTO李文杰围绕《从国产设备，到可信量检测——标准片技术突破与产业协同机遇》作产业专题分享。
分享从半导体产业发展趋势出发，结合量检测设备的应用场景与技术挑战，系统介绍了标准片在设备校准、性能验证和测量结果比对中的重要作用，并围绕视光微的技术方向、企业人才需求及校企合作愿景进行了交流。
随着半导体制造工艺持续向精细化发展，量检测设备不仅需要具备良好的检测能力，还需要通过可靠的参考标准与验证方法，进一步提升测量结果的准确性、稳定性和可比性。
标准片正是连接设备性能、测量结果与工程应用的重要环节。
围绕这一产业需求，视光微持续聚焦膜厚标准片、颗粒标准片、AOI校准片、图形校准样及X-Y校准片等产品方向，致力于为半导体检测设备的校准、验证与性能评估提供产品和相关测试服务支持。
此次专题分享也进一步展现了企业从实际产业问题出发，探索技术创新与协同研发的思路。
三、走进计量与集成电路实验场景，深化交流互鉴
产业专题分享结束后，与会嘉宾先后参观了中国计量大学计量博物馆及信息学院集成电路实验室，进一步了解学校的计量文化、科研环境与实验平台。
从产业趋势的交流，到计量相关场馆与实验室的参观，本次活动让企业代表与高校相关人员有机会围绕计量科学、精密测量及半导体产业应用开展更加深入的沟通。
对于半导体量检测领域而言，产业实践与科研探索相互支撑，既需要企业持续积累产品开发、客户应用与工程验证经验，也需要高校在精密测量、测试技术及相关科研方向提供专业支持。
通过进一步加强交流，双方有望在技术研究、实验验证、实践教学和人才培养等方面探索更加务实的合作路径。
四、产学研协同，让科研更贴近产业需求
校企合作的意义，不仅在于建立合作关系，更在于推动真实产业问题与科研能力形成有效连接。
此次签约暨授牌仪式，为视光微与中国计量大学后续合作奠定了新的基础。
未来，视光微期待结合半导体量检测领域的实际需求，与高校在标准片相关技术研究、测量方法与验证、科研项目协作以及学生实践实训等方面进一步加强交流。
我们也期待，通过校企双方的持续协作，将产业问题转化为可研究、可验证的具体课题，让科研成果更好地服务产业应用，同时为专业人才了解半导体行业、参与实际工程实践创造更多机会。
五、立足产业需求，持续探索技术创新
半导体产业的发展，需要检测设备、计量技术、标准体系与人才培养等多方面协同推进。
对于视光微而言，标准片不仅是产品，更是连接检测设备与可信测量结果的重要支撑。
此次与中国计量大学开展合作，是视光微持续深化校企交流、探索产学研协同创新的一次积极实践。
未来，视光微将继续立足半导体检测与量测领域，围绕标准片、校准片及相关测试服务，不断积累技术经验、加强合作交流，积极探索技术创新与产业应用相结合的新路径。
以计量为基础，以标准为支撑，以协同促创新。
视光微期待与高校、科研机构及产业伙伴携手，共同推动半导体量检测技术与标准片相关领域的发展，为国产半导体产业的高质量发展贡献力量。
上海视光微电子工程有限公司
专注半导体检测设备标准片、校准片及相关测试服务。
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